◆日 時 1997年7月9日 (水), 10 日 (木), 11 日 (金) ◆場 所 JAホール, 国際会議室 (東京都千代田区大手町1-8-3 JAビル 8/9 階) ◆講演申込 講演題目, 氏名, 所属, 連絡先 (住所, 電話) を申込書 (コピー可) にて事務局に送ってください。発表分野も明記してください。 申込みはFAXでも受付けます。 事務局 〒164 東京都中野区本町2-9-5 東京工芸大学内 電子写真学会年次大会 係 TEL 03-3373-9576, FAX 03-3372-4414 ◆申込〆切 1997年4月4日 (金) ◆原稿〆切 1997年5月30日 (金)
| 1. 感光体 | 1.1 材料 (材料設計, 基礎物性など) 1.2 製造プロセス (解析, 設計, 新プロセス, プロセス制御など) 1.3 デバイス 1.4 計測技術 (電位分布など) 1.5 応用技術 |
| 2. 現像剤トナ− | 2.1 材料 (現像剤, 粉体, 紙などの材料設計, 基礎物性など) 2.2 製造プロセス (解析, 設計, 新プロセス, プロセス制御など) 2.3 計測技術 (トナー電荷量, 電位分布など) 2.4 応用技術 |
| 3. 電子写真プロセス・デバイス | 3.1 材料 (材料設計, 基礎物性など) 3.2 プロセス (解析, 設計, 新プロセス, プロセス制御など) 3.3 デバイス (光源, スキャナ, イメージバー, 現像器, 帯電器,定着器,クリーニングなど) 3.4 装置 (複写機, レーザビームプリンタ,LEDプリンタなど) 3.5 計測技術 (トナー電荷量, 電位分布など) 3.6 応用技術 (印刷製版など) |
| 4. インクジェット | 4.1 材料 (インク,記録紙などの材料設計, 基礎物性など) 4.2 プロセスとデバイス (プロセス設計解析, ヘッド, ノズルなど) 4.3 装置 (複写機, プリンタ,ファクシミリなど) 4.4 計測応用技術(粒子体積速度飛翔角度などの計測) |
| 5. ダイレクトマーキング | 5.1 熱記録 (材料,プロセスとデバイス,装置,計測応用技術) 5.2 リライタブルマーキング (材料,プロセスとデバイス,計測応用技術) 5.3 トナーマーキング (材料,プロセスとデバイス,計測応用技術) 5.4 その他 |
| 6. 画像システム | 6.1 プリンタコントローラ, ページ記述言語など 6.2 画像通信 6.3 カラー画像システム 6.4 その他 |
| 7. 画像基礎および画像処理・計測・評価 | 7.1 画像基礎(色彩, 視覚, 測色,色分解,文字フォントなど) 7.2 画像処理(画像処理,カラ−マネジメント,階調補正,色補正など) 7.3 画像計測 7.4 画質評価 7.5 画像標準化 7.6 その他 |
| 8. 電子マーキングおよび新イメージング | 8.1 電子マーキング (イオンフロー,静電記録,磁気記録,電子黒板など) 8.2 新画像記録技術 8.3 その他の画像技術に関する研究 8.4 その他 |