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感光体の潜像電位の計測には通常は,非接触式の表面電位計を使用しますが,ミクロな潜像プロファイルの測定にはある特別な装置が用いられます.何でしょう.
①静電気力顕微鏡
②電子顕微鏡
③核磁気共鳴映像装置
【正解①】静電気力顕微鏡はAFMに近い原理で,帯電する物体の表面近傍をカンチレバーがスキャンするときに,物体の表面電荷が作る静電場がカンチレバーに作用したときに起こるカンチレバーの変位を読み取って電位プロファイルとして描画します.静電気力顕微鏡は,トナー表面の荷電サイトの分布の計測などにも適用されています.





